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2009全国失效分析会议10月召开,徕卡将展出最高端材料显微镜
发布时间:2009-9-25 17:05:21  浏览次数:1835 次  来源:顺星电子科技集团有限公司

      2009全国失效分析会议10月将在上海召开,作为显微镜的独家厂家,德国LEICA仪器将展出最高端的材料显微镜DM6000M、DMI5000M。

      另外,LEICA去年刚刚获得国际工业大奖的立体显微镜M205,作为目前世界最高分辨率(1050线对/MM),最大变倍比(1:20.5X),众多光学专利和照明专利的产品也将展出,该产品对断口分析,裂纹分析的水平是目前立体显微镜中最高的。

      21 世纪以来,我国的经济建设和装备制造业得到迅速发展的同时,各种与安全生产有关的失效事故时有发生。本次会议是继中国机械工程学会理化检验分会与失效分析分会,在广州、长沙共同举办全国失效分析学术会议之后,举办的又一次全国性的失效分析行业大会。

      本次会议定于2009 年10 月19 日~23 日在上海举办,会议邀请著名院士、专家学者等作特邀报告,总结失效分析与预防研究成果,交流失效分析的经验和技术,探讨失效分析学科发展战略。会议期间将组织失效分析与理化检测样本展示会,开展专家咨询活动,为企业、厂商和工程技术人员提供更广泛的交流平台。

    会议内容
1)失效分析原理与方法;
2)失效分析中的理化检验技术;
3)典型失效案例解析;
4)失效分析与安全,风险评估与管理;
5)失效与设计,材料和工艺,服役环境相关的分析;
6)失效分析预防预测技术;
7)特种材料和装置失效分析与预防;
8)其他相关失效分析与预防技术。

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